尼通手持(chi)光(guang)(guang)(guang)(guang)譜(pu)儀(yi)是一(yi)種(zhong)基(ji)于XRF光(guang)(guang)(guang)(guang)譜(pu)分析(xi)(xi)技術(shu)的(de)光(guang)(guang)(guang)(guang)譜(pu)分析(xi)(xi)儀(yi)器，當能量高(gao)(gao)于原(yuan)子(zi)(zi)(zi)內層電(dian)(dian)(dian)子(zi)(zi)(zi)結合能的(de)高(gao)(gao)能X射線與(yu)原(yuan)子(zi)(zi)(zi)發生(sheng)(sheng)碰撞時,驅逐一(yi)個(ge)內層電(dian)(dian)(dian)子(zi)(zi)(zi)從(cong)而(er)出(chu)現一(yi)個(ge)空(kong)穴(xue),使整個(ge)原(yuan)子(zi)(zi)(zi)體系處于不(bu)穩定的(de)狀(zhuang)態(tai),當較外層的(de)電(dian)(dian)(dian)子(zi)(zi)(zi)躍遷到空(kong)穴(xue)時,產生(sheng)(sheng)一(yi)次(ci)光(guang)(guang)(guang)(guang)電(dian)(dian)(dian)子(zi)(zi)(zi)，擊出(chu)的(de)光(guang)(guang)(guang)(guang)子(zi)(zi)(zi)可能再(zai)次(ci)被吸(xi)收(shou)而(er)逐出(chu)較外層的(de)另一(yi)個(ge)次(ci)級光(guang)(guang)(guang)(guang)電(dian)(dian)(dian)子(zi)(zi)(zi)，發生(sheng)(sheng)俄(e)歇(xie)(xie)效應(ying)(ying),亦稱次(ci)級光(guang)(guang)(guang)(guang)電(dian)(dian)(dian)效應(ying)(ying)或無(wu)輻射效應(ying)(ying)。所逐出(chu)的(de)次(ci)級光(guang)(guang)(guang)(guang)電(dian)(dian)(dian)子(zi)(zi)(zi)稱為俄(e)歇(xie)(xie)電(dian)(dian)(dian)子(zi)(zi)(zi)。 尼(ni)通手持光譜儀維護(hu)保養：
在清潔無塵(chen)的環(huan)境更換窗(chuang)口膜片，防止灰塵(chen)進(jin)入檢(jian)測器窗(chuang)口。
該設備為使用(yong)X射(she)線(xian)，在測量時(shi)，不(bu)要(yao)把儀器指向任何人(ren)。也不(bu)要(yao)把身體某個部位暴露在光束中。
清潔儀器(qi)表面臟物(wu)或塵土(tu)時，先吹(chui)再擦（柔(rou)軟紗布）。
不可擠壓電(dian)腦(nao)屏幕。
在操(cao)作時，嚴禁刪除設備(bei)的任何程序、文件(jian)夾、文檔，嚴禁使用(yong)帶病毒USB驅動器。
專(zhuan)人專(zhuan)管(guan)專(zhuan)用。設備要存(cun)放(fang)在(zai)干燥環(huan)境中。不要把儀器長時間(jian)置(zhi)于(yu)陽光下存(cun)放(fang)，以防損壞液晶(jing)顯示器，禁止置(zhi)于(yu)有(you)霧，液體或腐蝕性溶(rong)劑的環(huan)境中。
無論何時，禁止把任何物體插入檢測器(qi)內。
設備中的X射(she)線管與探(tan)測器為精密元件(jian)，嚴禁磕碰撞擊儀器。
電池長時間(jian)貯存(cun)，則需每年(nian)充電一次(ci)。
尼通手持光譜儀注(zhu)意(yi)事項(xiang)：
1、樣品必須是固態(tai)金屬，嚴禁對空(kong)分(fen)析。
2、儀(yi)器工作(zuo)時槍頭前(qian)面十米內不能有人，槍頭保護套沒有安裝的情況下禁止分析，分析過程中嚴禁觸摸處于保護套范圍內的樣品區域，在分析結束快門關閉前嚴禁脫離樣品。
3、如果樣品不能*覆蓋分析(xi)窗口，必須(xu)使用小樣品夾具(ju)。
4、如果樣品厚(hou)度小(xiao)于5毫米(mi)，分析時(shi)不能手持樣品。
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